低阻抗率計(jì) （手提式）

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商品名稱：  低阻抗率計(jì) MCP-T370型 (手提式)
Loresta-AX 
特色：  維持安定之高質(zhì)量，依據(jù)世界*之四探針理論之高精度之阻抗率計(jì)
操作簡(jiǎn)單，現(xiàn)場(chǎng)使用攜帶型方便，用于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量管理 
測(cè)定范圍：  10-2～106Ω 
資料輸出：  USB Memory 
體積：  約 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g 
標(biāo)準(zhǔn)配備 
  ASP探頭 MCP-TPO3P《四探針探頭》
利用價(jià)值廣泛標(biāo)準(zhǔn)探頭JIS K7194對(duì)應(yīng)，
Pin間 5mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支，
尺寸 35W×20L×35Hmm 
  MCP-TA06 充電器 
選購(gòu)品 
  ESP探頭 MCP-TPO8P《四探針探頭》
不均一樣品用
Pin間 5mm，Pin尖 Ø 2×4支，壓力 240g/支，
尺寸 35W×20L×35Hmm 
  PSP探頭 MCP-TPO6P《四探針探頭》
小樣品或薄膜用
Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支，
尺寸 Ø 10-20× L112mm 
  QPP探頭 MCP-TPQPP《四探針探頭》
微小樣品用
Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支，
尺寸 Ø 10-20× L112mm 
  NSCP探頭 MCP-NSCP《四探針探頭, 特殊用探頭》
Silicone wafer用
Pin間 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，壓力 250g/支 
  BSP探頭 MCP-TPO5P《四探針探頭, 特殊用探頭》
大樣品用
Pin間 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支 
  TFP探頭 MCP-TFP《四探針探頭, 特殊用探頭》
Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用
Pin間 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，壓力 50g/支 
  AP探頭 MCP-TPAP《二探針探頭》
標(biāo)準(zhǔn)樣式
Pin間 10mm，Pin尖 Ø 2×2支，壓力 240g/支 
  BP探頭 MCP-TPBP《二探針探頭》
大樣品用
Pin尖 Ø 2×2支，壓力 240g/支 
  MCP-TRF1探頭檢驗(yàn)片
ASP, ESP探頭用 (探頭檢驗(yàn)片于測(cè)定前檢查之) 
  MCP-TRPS 探頭檢驗(yàn)片
PSP探頭用 (探頭檢驗(yàn)片于測(cè)定前檢查之) 
  MCP-TRTF 探頭檢驗(yàn)片